PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK ให้ความละเอียดสูง 1μm
PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK สำหรับควบคุมคุณภาพระหว่างการผลิตที่ง่ายขึ้น วัดได้หลายมิติ ความละเอียดสูง 1μm
PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK สำหรับควบคุมคุณภาพระหว่างการผลิตที่ง่ายขึ้น วัดได้หลายมิติ ความละเอียดสูง 1μm
เผยเบื้องหลังการผลิตเครื่องช่วยหายใจสำหรับทารกน้อย ซึ่งอาศัยเทคโนโลยีการวัดด้วยกล้อง ZEISS O-INSPECT ก้าวข้ามความท้าทายได้สำเร็จ ทำให้แม่นยำสองเท่า และร่นเวลาการตรวจวัดชิ้นงาน