PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK ให้ความละเอียดสูง 1μm อัปเดตล่าสุด 27 มี.ค. 2567 4 views PTSC เปิดตัวระบบการวัดเพลา Opticline ของ JENOPTIK สำหรับควบคุมคุณภาพระหว่างการผลิตที่ง่ายขึ้น วัดได้หลายมิติ ความละเอียดสูง 1μm
